LNEYA CHILLERS
Temperature Forcing Systems
Thermal Stream AES-series
温度範囲: -120℃～+300℃;
気温の上昇と下降は非常に速く、 -55 °C ~ 150 °C < 10 s
温度制御精度: ±1 °C;
温度設定能力: ±0.1 °C;
温度表示能力: ±0.1 °C;
最大風量: 25m³/時;
テスト結果は再現可能
Because it can stably maintain a certain temperature point during constant temperature testing, the accuracy can reach ±0.1℃; the temperature changes rapidly during temperature shock: -55℃~+150℃<10 seconds; it truly achieves the purpose of temperature “shock”; the temperature change time is controllable and the operation can be programmed.
従来のサーモスタットと比較して、いくつかの機能があります。
テスト対象 IC の実際の温度をリアルタイムで監視し、閉ループ フィードバックを実現してガス温度をリアルタイムで調整します。
温度上昇と下降時間は制御可能で、プログラム可能な操作、手動操作、 リモコン。
| モデル | AES-4535 | AES-6035 | AES-8035 | AES-A1035W | AES-A1235W | |
| AES-4535W | AES-6035W | AES-8035W | ||||
| 温度範囲 | -45℃～225℃ | -60℃～225℃ | -80℃～225℃ | -100℃～225℃ | -120℃～225℃ | |
| 火力 | 3.5kW | 3.5kW | 3.5kW | 4.5kW | 4.5kW | |
| 温度制御精度 | ±0.5℃ | ±0.5℃ | ±0.5℃ | ±0.5℃ | ±0.5℃ | |
| 温度変換時間 | -25℃～150℃ 約10秒 150℃～-25℃ 約20秒 |
-45℃～150℃ 約10秒 150℃～-45℃ 約20秒 |
-55℃～150℃ 約10秒 150℃～-55℃ 約15秒 |
-70℃～150℃ 約10秒 150℃～-70℃ 約20秒 |
-80℃～150℃ 約11秒 150℃～-80℃ 約20秒 |
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| 空気要件 | エアクリーナー <5um | |||||
| 空気中の油分含有量: <0.1ppm | ||||||
| 気温と湿度: 5℃～32℃ 0～50%RH | ||||||
| 航空ハンドリング能力 | 7m³/h～25m³/h、圧力5bar～7.6bar | |||||
| システム圧力表示 | 冷凍システムの圧力は圧力計（高圧、低圧）によって実現されます。 | |||||
| 循環器系の圧力は圧力センサーによって検出され、タッチスクリーンに表示されます。 | ||||||
| コントローラ | Siemens PLC、ファジー PID 制御アルゴリズム。 | |||||
| 温度制御 | 出口温度の制御 | |||||
| プログラム可能 | 10の手順を開発でき、各プログラムは45のステップで構成できます。 | |||||
| 通信プロトコル | イーサネット インターフェイス TCP/IP プロトコル。 | |||||
| 内部温度フィードバック | 機器出口温度、冷凍システム凝縮温度、周囲温度、コンプレッサー吸入温度、冷却水温度（水冷式機器の場合）。 | |||||
| 圧縮エンジン | 太康、フランス | 太康、フランス | 太康、フランス | イタリア デュリング | イタリア デュリング | |
| 冷媒 | R404A | R404A/R23 | R404A/R508B | R404A/R23/R14 | R404A/R23/R14 | |
| 形状寸法（風向）cm | 54×69×132 | 54×69×132 | 75×73×133 | 80×120×185 | 100×150×185 | |
| 25℃における冷却水量 | 0.6m³/時 | 1.2m³/時 | 1.6m³/時 | 2.6m³/時 | 3m³/時 | |
| 電源 380V 50HZ | 最大3.7kW | 最大5kW | 最大5kW | 最大6.8kW | 最大7.5kW | |
熱性能と効率性を重視した設計
The jet flow high and low temperature impact tester provides precise and rapid ambient temperature for chips, modules, integrated circuit boards, electronic components, etc. It is an indispensable instrument for electrical performance test, failure analysis and reliability evaluation of products.
あらゆる種類のICテストに適しています 半導体チップ、フラッシュメモリ フラッシュ/EMMC、PCB 回路基板、光通信、電子産業等
熱試験アプリケーションをカスタマイズする
それは1つを隔離することができる 1C または多くのコンポーネントの中から元のコンポーネントを選択し、周囲の他のデバイスに影響を与えることなく、高温と低温の衝撃を個別に実行します。従来の熱衝撃テストボックスと比較して、温度 衝撃速度が速くなります。
製品詳細
熱強制システムがテストアプリケーションにどのような効果をもたらすかを学びます (ビデオを見る)
加熱と冷却の時間は制御可能で、プログラム可能で、手動で操作することも、ソフトウェアでリモート制御することもできます。5つのモデルからお選びいただけます。また、カスタマイズサービスも提供しています。お問い合わせください。 サポート
